Holograficzny filtr wycinający 785 nm do spektroskopii ramanowskiej
video
Holograficzny filtr wycinający 785 nm do spektroskopii ramanowskiej

Holograficzny filtr wycinający 785 nm do spektroskopii ramanowskiej

Obsługa dostosowywania NF785nm ISO9001, głębokość blokowania z certyfikatem RoHS OD6

  • Szybka dostawa
  • Zapewnienie jakości
  • Obsługa klienta 24/7
Wprowadzenie produktów

Holograficzne filtry wycinające to filtry optyczne, które selektywnie przepuszczają światło w określonym zakresie długości fal, blokując resztę. Filtry te wykorzystują holograficzny proces rejestracji do tworzenia okresowej struktury na szklanym podłożu, co powoduje destrukcyjną interferencję niepożądanych długości fal.

 

Holograficzny filtr wycinający 785 nm blokuje światło lasera w zakresie długości fali 785 nm. Jest powszechnie stosowany w spektroskopii ramanowskiej do zatrzymania rozpraszania światła laserowego przez Rayleigha i poprawy stosunku sygnału do szumu w widmach ramanowskich.

 

UVWAVETEK to profesjonalny producent filtrów wycinających, który produkuje wysokiej jakości filtry wycinające 785nm na całym świecie. Filtr jest bardzo wydajny i ma wysoką szybkość transmisji do 90 procent dla żądanej długości fali. Jest również trwały i wytrzymuje wysokie temperatury i wilgotność, co czyni go doskonałym wyborem do każdego laboratorium lub środowiska przemysłowego.

 

Cechy

- Filtr wycinający dla NF785nm

- Wysokie tłumienie

- Niska strata wtrąceniowa

- Regulowana długość fali

- Stabilna powłoka środowiskowa

- Certyfikat ISO9001, RoHS

 

Parametry

Nazwa produktu

Filtr wycinający 785 nm

Centralna długość fali (CWL)

785 nm

Podłoża

Szkło

Średnica

φ30mm lub niestandardowe

Grubość

1 mm lub niestandardowe

Odbicie

>90 procent

Głębokość blokowania

OD3 lub niestandardowe

AOI

0-45 stopień

Jakość powierzchni

40/20 lub niestandardowe

Tolerancja

±0.01-0,1 mm

 

Krzywa transmisji widma

product-775-663

 

Aplikacje

Holograficzny optyczny filtr wycinający 785 nm jest powszechnie stosowany w spektroskopii ramanowskiej do blokowania rozpraszania światła laserowego przez Rayleigha i poprawiania stosunku sygnału do szumu w widmach ramanowskich. Jest to kluczowy element w zastosowaniach spektroskopii Ramana, które wymagają selektywnej transmisji światła w określonym zakresie długości fal, blokując resztę.

 

Historia rozwoju spektroskopii ramanowskiej

Spektroskopię Ramana odkrył indyjski fizyk Sir Chandrasekhara Venkata Raman w 1928 roku. Odkrył on, że niewielka część światła jest rozpraszana w różnych kierunkach, gdy światło pada na materiał. Rozproszone światło może zmieniać długość fali, co jest znane jako efekt Ramana. Efekt ten można wykorzystać do analizy składu chemicznego materiału. Spektroskopia ramanowska stała się cennym narzędziem w chemii, fizyce, biologii i materiałoznawstwie.

 

Od czasu odkrycia spektroskopia ramanowska przeszła znaczny rozwój. W latach 60. XX wieku wynalezienie lasera znacznie poprawiło czułość i rozdzielczość spektroskopii ramanowskiej. W latach 70. XX wieku opracowano rezonansową spektroskopię Ramana, umożliwiającą badanie wzbudzonych stanów elektronowych cząsteczek. W latach 80. XX wieku odkryto wzmocnioną powierzchniowo spektroskopię Ramana (SERS), która znacznie zwiększyła czułość spektroskopii Ramana o kilka rzędów wielkości.

 

Dziś spektroskopia ramanowska jest szeroko stosowaną techniką w różnych dziedzinach nauki i techniki. Jest używany w przemyśle farmaceutycznym do analizy czystości leków, w kryminalistyce do identyfikacji śladów, aw nanotechnologii do badania właściwości nanocząstek. Rozwój spektroskopii ramanowskiej przy użyciu holograficznego filtra wycinającego 785 nm znacznie przyczynił się do zrozumienia właściwości fizycznych i chemicznych materiałów oraz utorował drogę wielu postępom w nauce i technologii.

product-404-296product-283-218

Popularne Tagi: Holograficzny filtr wycinający 785 nm do spektroskopii Ramana, Chiny, dostawcy, producenci, fabryka, zindywidualizowane, hurt, luzem, cennik, w magazynie, na sprzedaż

Może ci się spodobać również

(0/10)

clearall